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鐵電分析儀高壓功率放大器塞貝克系數電阻測試儀先進功能材料電測綜合測試系統- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統儲能新材料電學綜合測試系統半導體封裝材料真空探針臺空間電荷測試系統電容器溫度特性評估系統高頻高壓絕緣電阻、介電多通道極化裝置絕緣電阻率測試儀高低溫冷熱臺測試系統 50點耐壓測試儀電壓擊穿測定儀耐電弧試驗儀探針臺漏電起痕試驗儀多通道介電與電阻測試系統

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塞貝克系數電阻測試儀用于高校熱電效應研究

更新時間：2025-07-04

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華測儀器的HC-RD-1100塞貝克系數電阻測試儀用于高校熱電效應研究，可以同時測定樣品在RT至1500℃溫度范圍內的塞貝克系數和電阻率。
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HC-RD-1100塞貝克系數電阻測試儀

更新時間：2025-07-04

型號：

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HC-RD-1100塞貝克系數電阻測試儀：熱電效應描述了材料中溫度和電的相互影響，它基于三個基本效應：塞貝克效應、珀爾帖效應和湯姆森效應。塞貝克效應是1821年由德國物理學家J. T. Seebeck發現的，描述了在電絕緣導體中施加溫度梯度時電場的形成。
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